文献

J-GLOBAL ID：201502202125201999   整理番号：15A0832328

集光レンズの後焦点面における絞りを用いた光ピンセットに関する線形検出領域の拡張

Extended linear detection range for optical tweezers using a stop at the back focal plane of the condenser

著者 (5件)： MOUSAVI S Masoumeh (Inst. for Advanced Studies in Basic Sci., Zanjan, IRN) ,  SAMADI Akbar (Inst. for Advanced Studies in Basic Sci., Zanjan, IRN) ,  SAMADI Akbar (San Francisco State Univ., CA, USA) ,  HAJIZADEH Faegheh (Inst. for Advanced Studies in Basic Sci., Zanjan, IRN) ,  REIHANI S Nader S (Sharif Univ. Technol., Tehran, IRN)
資料名： Journal of Optics  (Journal of Optics)
巻： 17  号： 6  ページ： 065606,1-5  発行年： 2015年06月 
JST資料番号： D0538C  ISSN： 2040-8978  CODEN： JOOPCA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 光ピンセット(OT)と呼ばれる強く集束したガウス型ビームを用いると,生物学からナノ技術に亘る様々な分野において,非侵襲的なマイクロマニピュレーションが可能である。周辺の媒質より屈折率の大きいミクロンサイズの物体は,焦点近くに捕獲される。OTに関するフックの復元力は,生物学的な力の測定に幅広く活用される。このような実験において,トラップの中心から捕獲されたビーズの変位をナノメートルの分解能で測定することが不可欠である。光ピンセットの位置検出システムは線形領域が狭いので,位置センサーよりむしろ力センサーであることが知られている。本稿では,Mie-Debye法に基づき,集光レンズの後焦点面における光学絞りの位置を決めることによって,線形検出領域を拡張できることを初めて明きらかにした。この方法は光ピンセットの力分光法への応用という観点から非常に有用であると思われる。

シソーラス用語： *光トラッピング ,  *Gaussビーム ,  *操作 ,  変位 ,  検出 ,  集光レンズ ,  *検出器
準シソーラス用語： 光ピンセット ,  *マイクロマニピュレーション ,  ナノメートル ,  位置検出 ,  *線形検出器

分類 (1件)： レーザの応用  (BD04100V)

タイトルに関連する用語 (7件)： 集光レンズ ,  焦点面 ,  絞り ,  光ピンセット ,  線形 ,  検出領域 ,  拡張