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J-GLOBAL ID:201502203321795461   整理番号:15A1207640

モンテカルロ法により設計されたXRF分析器に望ましいX線捕集角の計算【Powered by NICT】

Calculation of desired X-ray collection angle on XRF analyzer designed by Monte Carlo method
著者 (5件):
資料名:
巻: 38  号:ページ: 060502-1-060502-5  発行年: 2015年 
JST資料番号: C2034A  ISSN: 0253-3219  CODEN: NUTEDL  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 中国 (CHN)  言語: 中国語 (ZH)
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X線蛍光(XRF)分析器の幾何学的レイアウトの設計を考慮する必要がある,検出器と試料の距離,検出器への発生源の距離,源に対する試験片の距離である。所望X線収集角は検出性能の重要な要因の一つである。しかし,経験幾何学的レイアウトは,XRF分析器設計を満たすことができないし,励起源あるいは検出器の性能は良好になってきているため,試料処理技術は非常に高度化した。目的:目的は,XRF分析器設計上の所望のX線収集角度の影響を研究し,XRF分析器設計のための方法論に関する技術指導を提供することである。【方法】本論文では,モンテカルロ法によるXRF分析装置モデルを構築し,XRF分析器設計上の所望のX線収集角の影響を解析した。所望X線収束角を有する因子の【結果】種類を解析し,CuのX線特性蛍光ピーク数,「試料に検出器軸の距離,Cuのピークへの発生源の比である。【結論】検出器と試料の間の距離の増加により,検出器のパルス数は指数関数的減衰則を満たす。所望X線収集角が大きくなると,CuのX線特性蛍光ピーク数は直線的に増加した。所望X線収集角が大きくなると,「ピークへの発生源の比は指数関数的に減衰するが,全ピークの比は同じであった。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST【Powered by NICT】
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分類 (1件):
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計算機シミュレーション 

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