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J-GLOBAL ID：201502203448637598   整理番号：15A0907800

電子技術とフォトニクスにおける信頼性の確率的設計:役割,意味,特質,挑戦

Probabilistic Design for Reliability in Electronics and Photonics: Role, Significance, Attributes, Challenges

著者 (6件)： SUHIR E. (Portland State Univ., OR) ,  SUHIR E. (ERS Co., CA, USA) ,  SUHIR E. (Technical Univ., Vienna, AUT) ,  BENSOUSSAN A. (Inst. Technological Res., Toulouse, FRA) ,  KHATIBI G. (Technical Univ., Vienna, AUT) ,  NICOLICS J. (Technical Univ., Vienna, AUT)
資料名： Annual Proceedings. IEEE International Reliability Physics Symposium  (Annual Proceedings. IEEE International Reliability Physics Symposium)
巻： 2015 Vol.2  ページ： 489-501  発行年： 2015年 
JST資料番号： A0631A  ISSN： 1541-7026  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *オプトエレクトロニクス ,  *電子技術 ,  信頼性 ,  *確率論 ,  *信頼性設計 ,  適性検査 ,  加速試験 ,  時間
準シソーラス用語： フォトニクス ,  確率的設計 ,  MTTF

分類 (2件)： 信頼性  (KB04040H) ,  電子工学一般  (NC01000A)

タイトルに関連する用語 (6件)： 電子技術 ,  フォトニクス ,  確率的設計 ,  役割 ,  意味 ,  特質