文献

J-GLOBAL ID：201502204259718087   整理番号：15A1017165

簡単化したホイヘンス表面上の磁気的近傍界のみによる遠方界予測

Far-Field Prediction by Only Magnetic Near Fields on a Simplified Huygens’s Surface

著者 (3件)： PAN Jingnan (Missouri Univ. Sci. and Technol., MO, USA) ,  GAO Xu (Missouri Univ. Sci. and Technol., MO, USA) ,  FAN Jun (Missouri Univ. Sci. and Technol., MO, USA)
資料名： IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility  (IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility)
巻： 57  号： 4  ページ： 693-701  発行年： 2015年08月 
JST資料番号： H0383A  ISSN： 0018-9375  CODEN： IEMCAE  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 雑音低減と電磁波耐性改善に関する専門知識の欠如のためにEMI問題はIC再設計の主要な要因の一つとなっている。遠方界の放射については多くの研究がある。通常,DUTは遠方界放射測定のために電波暗室内に置かれる。しかしそのコストが高いので他の方法も提案されている。本論文の方法は標準の遠方界測定の拡張として使用できる。また設計の初期段階における粗い遠方界推定用に使うこともできる。提案方法をシミュレーションと測定により評価する。これにより電気的プローブ設計や近傍界測定のコストと時間を節約することができる。

シソーラス用語： *簡素化 ,  *表面 ,  *磁気的性質 ,  *近傍場 ,  *遠方場 ,  *予測 ,  電磁干渉 ,  回路設計 ,  放射測定 ,  無響室 ,  *波動伝搬
準シソーラス用語： IC設計 ,  *ホイヘンスの原理 ,  電波暗室

分類 (1件)： 雑音測定  (ND04030F)

タイトルに関連する用語 (4件)： 磁気 ,  近傍界 ,  遠方界 ,  予測