文献

J-GLOBAL ID：201502205340710517   整理番号：15A0286925

Bi_0.8-Pr_xBa_0.2FeO₃(x≦0.1)セラミックスの構造膨張への温度の効果

Effect of temperature on structural expansion for Bi_0.8- Pr _x Ba_0.2FeO₃ (x ≦0.1) ceramics

著者 (4件)： CHENG G.F. (Analysis & Testing Center for Inorganic Materials, Shanghai Inst. of Ceramics, Chinese Acad. of Sciences, Shanghai ...) ,  RUAN Y.J. (Analysis & Testing Center for Inorganic Materials, Shanghai Inst. of Ceramics, Chinese Acad. of Sciences, Shanghai ...) ,  LIU W. (Analysis & Testing Center for Inorganic Materials, Shanghai Inst. of Ceramics, Chinese Acad. of Sciences, Shanghai ...) ,  WU X.S. (National Lab. of Solid State Microstructures and Dep. of Physics, Nanjing Univ., Nanjing 210093, CHN)
資料名： Thermochimica Acta  (Thermochimica Acta)
巻： 602  ページ： 74-77  発行年： 2015年02月20日 
JST資料番号： E0350C  ISSN： 0040-6031  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： Bi_0.8-xPr_xBa_0.2FeO₃(x≦0.1)セラミックスのin situX線回折研究を25~800°Cの温度範囲で行った。ユニットセルの対称性が不変である一方,格子パラメーターとユニットセル容量の温度依存性が変動する。この系に検出される相分解と構造相転移が存在せず,Pr,Ba共ドーピングがBiFeO₃の構造を安定化することを示唆する。ユニットセルの熱膨張と熱膨張係数は正である。しかし,x=0.1の試料,即ち,Bi_0.7Pr_0.1Ba_0.2FeO₃のユニットセルの構造安定性は減少し,熱膨張係数が増加する。Neel温度近辺で熱膨張係数の異常性が観察され,可能な反強磁性-常磁性転移を示唆する。これは,加熱過程での低い熱膨張係数をおそらく説明する。Copyright 2015 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *鉄酸塩 ,  *ビスマス化合物 ,  *プラセオジム化合物 ,  *バリウム化合物 ,  *セラミック ,  *膨張 ,  *温度依存性 ,  X線回折 ,  格子定数 ,  構造相転移 ,  ドーピング ,  熱膨張係数 ,  磁気転移 ,  Neel温度
準シソーラス用語： 共ドーピング

分類 (1件)： セラミック・磁器の性質  (YC03030G)

タイトルに関連する用語 (2件)： セラミックス ,  膨張