文献

J-GLOBAL ID：201502205414033564   整理番号：15A1066004

ケイ酸イッテルビウム被覆のプラズマ溶射の間の構造,組成,欠陥制御

Structure, composition, and defect control during plasma spray deposition of ytterbium silicate coatings

著者 (3件)： RICHARDS Bradley T. (Univ. of Virginia, Dep. of Materials Sci. and Engineering, Wilsdorf Hall, 395 McCormick Road, 22904, Charlottesville ...) ,  ZHAO Hengbei (Univ. of Virginia, Dep. of Materials Sci. and Engineering, Wilsdorf Hall, 395 McCormick Road, 22904, Charlottesville ...) ,  WADLEY Haydn N. G. (Univ. of Virginia, Dep. of Materials Sci. and Engineering, Wilsdorf Hall, 395 McCormick Road, 22904, Charlottesville ...)
資料名： Journal of Materials Science  (Journal of Materials Science)
巻： 50  号： 24  ページ： 7939-7957  発行年： 2015年12月 
JST資料番号： B0722A  ISSN： 0022-2461  CODEN： JMTSAS  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 水蒸気の多い高温環境に曝されるSiC構造を保護するためには耐環境コーティング(EBCs)が必要である。最近の研究で,SiC上にSiを付着させ,ムライト拡散障壁,そして水蒸気による揮発性が低いケイ酸イッテルビウムをトップコートとする三層のEBC系が1316°Cまでの温度における使用に有望であることが示された。しかし,被覆系の性能はその堆積方法に依存するように思われる。そこで,α-SiC基板上にこの三層EBCを堆積するために大気プラズマ溶射法を用い,一ケイ酸イッテルビウム(Yb₂SiO₅)と二ケイ酸イッテルビウム(Yb₂Si₂O₇)のトップコートの構造,組成,欠陥に及ぼすプラズマアーク電流と水素含有量の影響を調べた。溶射のパラメータを変更することにより,噴射された粉末からのSiOの損失を低下させ,被覆の化学量論と相含有量を部分的に制御することができる。また,固化した液滴の形態,空隙率,被覆内の微小亀裂発生挙動を大幅に制御することもできる。Yb₂SiO₅とYb₂Si₂O₇の相異については,それらのEBCとしての適用性の観点から考察した。Copyright 2015 Springer Science+Business Media New York Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： 水蒸気 ,  環境 ,  高温 ,  *セラミック被覆 ,  炭化ケイ素 ,  ケイ素 ,  ムライト ,  拡散障壁 ,  塗膜 ,  被覆層 ,  イッテルビウム化合物 ,  *ケイ酸塩 ,  揮発性 ,  基板 ,  *プラズマ溶射 ,  大気中 ,  微細構造 ,  化学組成 ,  格子欠陥 ,  パラメータ ,  最適制御 ,  アーク放電 ,  電流 ,  水素 ,  酸化ケイ素 ,  化学量論 ,  液滴 ,  凝固 ,  モルフォロジー ,  空隙率 ,  微小亀裂 ,  遮熱コーティング
準シソーラス用語： アーク電流 ,  *ケイ酸イッテルビウム ,  トップコート ,  プラズマアーク ,  高温環境 ,  制御パラメータ ,  *多層被覆 ,  *耐環境コーティング ,  *大気プラズマ溶射

分類 (2件)： 非金属材料へのセラミック被覆  (YC02040K) ,  溶射  (WC08030N)

タイトルに関連する用語 (4件)： ケイ酸イッテルビウム ,  プラズマ溶射 ,  組成 ,  欠陥