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J-GLOBAL ID:201502205471031586   整理番号:15A1103397

X線・粒子線構造解析 我が国における反射高速電子回折の発展と全反射陽電子回折への展開

Development of the Reflection High-Energy Electron Diffraction in Japan and Evolution to the Total Reflection High-Energy Positron Diffraction
著者 (1件):
資料名:
巻: 70  号:ページ: 683-693  発行年: 2015年09月05日 
JST資料番号: F0221A  ISSN: 0029-0181  CODEN: NBGSA  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 解説  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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反射高速電子回折(RHEED)が我が国から始まった表面評価法ということはあまり知られていない。また,最近始まった全反射高速陽電子回折(TRHEPD)も我が国発の手法である。高速陽電子はすれすれ入射において,全反射を起こす。この全反射条件では,陽電子の進入深さは0.1nm以下である。したがってTRHEPDは結晶の最表面をバルクの影響なしに,最表面の原子の熱振動振幅すなわち表面デバイ温度など,表面物性の測定に強力な手段となる。本稿では,我が国から始まったRHEEDとTRHEPDの発展の過程と最近の成果を解説する。(著者抄録)
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分類 (4件):
分類
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電子回折法  ,  固体の表面構造一般  ,  電子・陽電子との相互作用一般  ,  固体プラズマ 
引用文献 (77件):
  • C. J. Davisson and L. H. Germer: Phys. Rev. 30 (1927) 705.
  • G. P. Thomson: Proc. Roy. Soc. A 117 (1927) 600.
  • S. Kikuchi: Proc. Imp. Acad. 4 (1928) 271.
  • E. Rupp: Ann. d. Phys. 85 (1928) 981.
  • S. Nishikawa and S. Kikuchi: Nature 121 (1928) 1019; Proc. Imp. Acad. 4(1928) 475.
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