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J-GLOBAL ID：201502206560270280   整理番号：15A1149109

磁気フォトニック結晶を用いた磁気光学イメージングによる欠陥深さ推定

Defect depth estimation using magneto optical imaging with magnetophotonic crystal

著者 (7件)： HASHIMOTO R. (Dep. of Electrical and Electronic Information Engineering, Toyohashi Univ. of Tech.) ,  YONEZAWA T. (Dep. of Electrical and Electronic Information Engineering, Toyohashi Univ. of Tech.) ,  TAKAGI H. (Dep. of Electrical and Electronic Information Engineering, Toyohashi Univ. of Tech.) ,  GOTO T. (Dep. of Electrical and Electronic Information Engineering, Toyohashi Univ. of Tech.) ,  ENDO H. (Hitachi Res. Lab., Hitachi Ltd.) ,  NISHIMIZU A. (Hitachi Res. Lab., Hitachi Ltd.) ,  INOUE M. (Dep. of Electrical and Electronic Information Engineering, Toyohashi Univ. of Tech.)
資料名： Journal of the Magnetics Society of Japan  (Journal of the Magnetics Society of Japan)
巻： 39  号： 5  ページ： 213-215 (J-STAGE)  発行年： 2015年 
JST資料番号： Z0944A  ISSN： 1882-2924  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *フォトニック結晶 ,  磁性体 ,  周期構造 ,  *画像処理 ,  *Faraday効果 ,  *非破壊検査 ,  *欠陥検査 ,  深さ分析 ,  *イットリウム鉄ガーネット ,  ビスマス ,  ドーピング ,  *磁性薄膜
準シソーラス用語： *磁気フォトニック結晶 ,  *磁気光学イメージング

分類 (3件)： 磁性材料  (NA04040H) ,  電気光学効果,磁気光学効果  (BM08020L) ,  非破壊試験  (HB02030F)

引用文献 (10件)：

• 1) Y. Teshima, Y. Gotoh, and N. Takahashi: JSNDI, 61, 5227 (2012).
• 2) P. Novotny, P. Sajdl, and P. Machac: NDT&E International, 37, 645 (2004).
• 3) P. Y. Joubert, J. Pinassaud, Sensors and Actuators A, 129, 126 (2006).
• 4) Z. Zeng, X. Liu, Y. Deng, L. Udpa, L. Xuan, W. C. L. Shih, and G. L. Fitzpatrick: IEEE Trans. Magn., 42, 11 (2006).
• 5) M. Baziljevich, D. Barness, M. Sinvani, E. Perel, A. Shaulov, and Y. Yeshurun: Rev. Sci. Instrum., 83, 083707 (2012).

タイトルに関連する用語 (4件)： 磁気フォトニック結晶 ,  磁気光学イメージング ,  欠陥 ,  推定