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J-GLOBAL ID：201502208627715153   整理番号：15A0873692

太陽電池モジュールの劣化機構の解明と信頼性向上技術

Improving the long-term durability of photovoltaic modules based on degradation mechanisms

著者 (2件)： 原浩二郎 (産業技術総合研 太陽光発電研究セ) ,  増田淳 (産業技術総合研 太陽光発電研究セ)
資料名： 応用物理  (JSAP International)
巻： 84  号： 7  ページ： 648-653  発行年： 2015年07月10日 
JST資料番号： F0252A  ISSN： 0369-8009  CODEN： OYBSA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 太陽光発電システムは,メガソーラーや住宅用で急速に普及が拡大している。長期間にわたる発電量の維持・向上や発電コスト低減のために,太陽電池モジュールの長期信頼性や寿命がますます重要となっている。本稿では,結晶Si太陽電池モジュールの屋内環境試験による高温・高湿条件下での劣化,ならびに高電圧誘起の劣化(PID現象)について,それぞれの劣化メカニズムと対策技術を紹介する。(著者抄録)

シソーラス用語： *太陽電池 ,  *機構 ,  改良 ,  *ポリシリコン ,  信頼性向上
準シソーラス用語： 多結晶Si ,  *太陽電池モジュール ,  *劣化機構

分類 (2件)： 太陽電池  (NC03084O) ,  太陽光発電  (NB03090G)

引用文献 (22件)：

• A.W. Czanderna and F.J. Pern: Sol. Energy Mater. Sol. Cells 43, 101 (1995).
• M.D. Kempe, G.J. Jorgensen, K.M. Terwilliger, T.J. McMahon, C.E. Kennedy, and T.T. Borek: Sol. Energy Mater. Sol. Cells 91, 315 (2007).
• K. Matsuda, T. Watanabe, K. Sakaguchi, M. Yoshikawa, T. Doi, and A. Masuda: Jpn. J. Appl. Phys. 51, 10NF07 (2012).
• C. Peike, S. Hoffmann, P. Hülsmann, B. Thaidigsmann, K.A. Weiß, M. Koehl, and P. Bentz: Sol. Energy Mater. Sol. Cells 116, 49 (2013).
• M.D. Kempe: Sol. Energy Mater. Sol. Cells 90, 2720 (2006).

タイトルに関連する用語 (2件)： 太陽電池モジュール ,  信頼性向上