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J-GLOBAL ID：201502208721489019   整理番号：15A0959491

量子Hall効果デバイスのための回路模型とSPICEマクロモデル

Circuit models and SPICE macro-models for quantum Hall effect devices

著者 (3件)： ORTOLANO Massimo (Politecnico di Torino, Torino, ITA) ,  ORTOLANO Massimo (INRIM - Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica, Torino, ITA) ,  CALLEGARO Luca (INRIM - Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica, Torino, ITA)
資料名： Measurement Science and Technology  (Measurement Science and Technology)
巻： 26  号： 8  ページ： 085018,1-12  発行年： 2015年08月 
JST資料番号： C0354C  ISSN： 0957-0233  CODEN： MSTCEP  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 量子Hall効果に基づく精密電気測定技術は現代量子電気計測の柱となっている。一つまたはそれ以上のQHE素子を含む電気ネットワークを量子抵抗およびインピーダンス標準として使うことができる。これ等のネットワークを解析すると,計測する人は標準としてのそれ等の性能についての不可避な寄生パラメータの効果を評価することができる。この論文は文献に提案されているQHE素子に対する色々な回路模型と新しい模型の発展に関する簡潔なレビューを述べる。この最近の模型は特にアナログ電子回路シミュレータSPICEによって使うのに適している。対応する解析的解および/または実験データによって有効性が認められるSPICEマクロモデルとSPICEシミュレーションを与える。

シソーラス用語： モデル ,  *量子Hall効果 ,  *電気抵抗 ,  *インピーダンス ,  *標準 ,  シミュレータ ,  精密測定 ,  有効性
準シソーラス用語： SPICEモデル ,  回路シミュレータ ,  *計量標準 ,  量子Hall効果デバイス

分類 (2件)： 単位,標準,標準器,定数  (AD03000E) ,  電子輸送の一般理論  (BM03020C)

タイトルに関連する用語 (4件)： 量子Hall効果 ,  模型 ,  SPICE ,  マクロモデル