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J-GLOBAL ID：201502208853841293   整理番号：15A1151085

アナログBJT回路とCMOS回路の多重ソフト故障診断のための新しいアプローチ

A New Approach to Multiple Soft Fault Diagnosis of Analog BJT and CMOS Circuits

著者 (2件)： TADEUSIEWICZ Michal (Lodz Univ. Technol., Lodz, POL) ,  HALGAS Stanislaw (Lodz Univ. Technol., Lodz, POL)
資料名： IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement  (IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement)
巻： 64  号： 10  ページ： 2688-2695  発行年： 2015年10月 
JST資料番号： C0232A  ISSN： 0018-9456  CODEN： IEIMAO  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 非線形アナログ回路の多重ソフト故障診断について扱い,故障のあるパラメータの位置決めができ,それらの値を評価できる方法を示した。診断の重要問題は,多重解を持つ非線形試験方程式系を解くことであり,各々の解は試験を満足させる一組のパラメータ値である。もう一つの重要な問題は,これらの解から現実的解を選択することである。これらの問題を解決するための効率的アプローチを示した。本方法はμmやnm技術で作製されたBJT回路とCMOS回路の故障診断に適用できる。

シソーラス用語： *故障診断 ,  *半導体集積回路 ,  バイポーラトランジスタ ,  非線形回路 ,  *アナログ集積回路 ,  バイポーラ集積回路 ,  非線形性 ,  演算増幅器 ,  回路定数 ,  測定精度
準シソーラス用語： CMOS回路 ,  BJT ,  *CMOS集積回路 ,  回路パラメータ

分類 (1件)： 半導体集積回路  (NC03162T)

タイトルに関連する用語 (6件)： アナログ ,  BJT ,  CMOS回路 ,  多重 ,  ソフト ,  故障診断