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J-GLOBAL ID：201502208948744864   整理番号：15A1229691

エピタキシャル酸化マグネシウム薄膜の歪誘起室温強磁性

Strain induced room temperature ferromagnetism in epitaxial magnesium oxide thin films

著者 (8件)： JIN Zhenghe (Dep. of Electrical and Computer Engineering, North Carolina State Univ., Raleigh, North Carolina 27695, USA) ,  NORI Sudhakar (Dep. of Materials Sci. and Engineering, North Carolina State Univ., Raleigh, North Carolina 27695, USA) ,  LEE Yi-fang (Dep. of Materials Sci. and Engineering, North Carolina State Univ., Raleigh, North Carolina 27695, USA) ,  KUMAR D. (Dep. of Mechanical Engineering, North Carolina A & T State Univ., Greensboro, North Carolina 27411, USA) ,  WU Fan (Princeton Inst. for the Sci. and Technol. of Materials (PRISM), Princeton Univ., Princeton, New Jersey 08540, USA) ,  PRATER J. T. (Materials Sci. Div., Army Res. Office, Res. Triangle Park, North Carolina 27709, USA) ,  KIM Ki Wook (Dep. of Electrical and Computer Engineering, North Carolina State Univ., Raleigh, North Carolina 27695, USA) ,  NARAYAN Jagdish (Dep. of Materials Sci. and Engineering, North Carolina State Univ., Raleigh, North Carolina 27695, USA)
資料名： Journal of Applied Physics  (Journal of Applied Physics)
巻： 118  号： 16  ページ： 165309-165309-6  発行年： 2015年10月28日 
JST資料番号： C0266A  ISSN： 0021-8979  CODEN： JAPIAU  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： エピタクシー ,  *酸化マグネシウム ,  *加工誘起変態 ,  *強磁性 ,  基板 ,  X線回折 ,  曲線 ,  飽和磁化 ,  保磁力 ,  歪 ,  点欠陥 ,  二次イオン質量分析 ,  X線光電子分光法 ,  微細構造 ,  透過型電子顕微鏡 ,  薄膜 ,  室温
準シソーラス用語： サファイア基板 ,  ヒステリシスループ ,  酸化物薄膜 ,  *室温強磁性 ,  *歪誘起変態

分類 (2件)： 酸化物薄膜  (BK14050P) ,  酸化物結晶の磁性  (BM06050E)

タイトルに関連する用語 (6件)： エピタキシャル ,  酸化マグネシウム ,  薄膜 ,  歪 ,  誘起 ,  室温強磁性