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J-GLOBAL ID:201502209336499211   整理番号:15A0473804

Si基材上のCuS薄膜の向上したトライボロジー性能:APS-PAA緩衝層のケース

Enhanced tribological performance of CuS thin film on Si substrate: the case of APS-PAA buffer layer
著者 (1件):
資料名:
巻: 67  号:ページ: 81-84  発行年: 2015年 
JST資料番号: E0093A  ISSN: 0036-8792  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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優れた潤滑特性を有する硫化銅(CuS)は,トライボロジー分野で注目されており,種々のCuS薄膜生成法のうちで連続イオン化層吸収および反応(SILAR)法が最も良く使われている。SILAR法によって,均一な厚さ,成分の薄膜を得るためには,基材表面の吸収性能の向上が鍵である。本論文では,ケイ素基材上のCuS薄膜のトライボロジー特性に及ぼす3-アミノプロピル-トリエトキシシラン-ポリアクル酸(APS-PAA)緩衝層の影響を調べた。最初に,APS-PAA緩衝層を自己集合法で,ケイ素基材上に蒸着させ,次に,SILAR法によって蒸着膜をCuS膜によってコーティングした。APS-PAA緩衝層の使用により,CuS膜が緻密,平滑かつ均質になり,その結果,CuS膜のトライボロジー特性が大幅に向上した。
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分類 (1件):
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潤滑一般 
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