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J-GLOBAL ID：201502209386419481   整理番号：15A0902152

収束電子ビームを用いた高強度レーザーのプロファイル計測に関する研究

著者 (6件)： 五十嵐大裕 (早稲田大 理工研) ,  佐藤令 (早稲田大 理工研) ,  野々村洸 (早稲田大 理工研) ,  坂上和之 (早稲田大 理工研) ,  遠藤彰 (早稲田大 理工研) ,  鷲尾方一 (早稲田大 理工研)
資料名： アイソトープ・放射線研究発表会要旨集
巻： 52nd  ページ： 21  発行年： 2015年06月20日 
JST資料番号： S0636B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *電子ビーム ,...
準シソーラス用語： フォトカソード ,...

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分類 (3件)： レーザ一般  (BD04030T) ,  レーザの応用  (BD04100V) ,  医療用機器装置  (GA05020L)

タイトルに関連する用語 (6件)： 収束電子ビーム ,  高強度 ,  レーザー ,  プロファイル ,  計測 ,  研究