文献
J-GLOBAL ID:201502209408348869   整理番号:15A1047728

安心・安全を守る漏れ検知・検査技術 2)〔品質管理編〕高感度ヘリウム漏れ試験技術 ヘリウム漏れ量4E-15Pa・m3/sの測定技術

著者 (1件):
資料名:
巻: 20  号: 10  ページ: 48-54  発行年: 2015年10月01日 
JST資料番号: L3524A  ISSN: 1342-9825  CODEN: KGEIAS  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 解説  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
抄録/ポイント:
抄録/ポイント
文献の概要を数百字程度の日本語でまとめたものです。
部分表示の続きは、JDreamⅢ(有料)でご覧頂けます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
電子デバイス製品の多くは密封構造により,内部デバイスを外気や湿気から保護している。電子デバイスを長期にわたり性能保証するには高感度のデバイス漏れ計測が要求される。本文は,新たに開発したヘリウムガスを利用した高感度ヘリウム漏れ試験装置の概要を紹介した。
シソーラス用語:
シソーラス用語/準シソーラス用語
文献のテーマを表すキーワードです。
部分表示の続きはJDreamⅢ(有料)でご覧いただけます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。

準シソーラス用語:
シソーラス用語/準シソーラス用語
文献のテーマを表すキーワードです。
部分表示の続きはJDreamⅢ(有料)でご覧いただけます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。

分類 (1件):
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
固体デバイス計測・試験・信頼性 

前のページに戻る