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J-GLOBAL ID:201502209449433950   整理番号:14A1444972

IRFPAの応用のためのHgCdTe MBEの進歩【Powered by NICT】

Progress on HgCdTe MBE for the application of IRFPAs
著者 (10件):
資料名:
巻: 44  号:ページ: 341-349  発行年: 2014年 
JST資料番号: C2586A  ISSN: 1674-7275  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 中国 (CHN)  言語: 中国語 (ZH)
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赤外焦点面アレイの第三世代による要求上のHgCdTe集束の分子ビームエピタキシャル成長の進歩について述べた。大フォーマットH gCdTe IRFPAが求められ,大面積代替基板上のHgCdTe MBEへの取り組みを示した,結晶品質,表面形態,ならびにCd組成umiformityの改善など。512×512MWとSW IRFPAにデバイス作製はHgCdTeエピ層の性能を実証した。格子整合基板上のHgCdTe MBEの研究についても述べた,これはLWとAPD HgCdTe検出器の製作に不可欠である。成長条件最適化後,エピ層の均一性は大幅に改善された。10mm HgCdTe/ZnCdTe(x=0.22)について,(422)X線回折のFWHMの典型的な値は25arcsec以下であり,EPDの最良の結果は3×10~4cmに達した~(-2)ことが分かった。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST【Powered by NICT】
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物理学一般 
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