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J-GLOBAL ID:201502210164379412   整理番号:15A1367049

初期材料のナノスケール静電ゲーティングのための非侵襲的方法

A Noninvasive Method for Nanoscale Electrostatic Gating of Pristine Materials
著者 (5件):
資料名:
巻: 15  号: 10  ページ: 6883-6888  発行年: 2015年10月 
JST資料番号: W1332A  ISSN: 1530-6984  CODEN: NALEFD  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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本研究は,ヘテロ構造材料の初期の品質を保持してナノスケールゲーティングを可能とする新規アプローチを実行した。QPC(量子点接触)中の量子化されたコンダクタンスおよび量子ドット中のCoulomb閉鎖特性の測定により,作製したフリップ-チップセットアップは,~100nmのゲート-ヘテロ構造分離と数ピコメータの振動振幅を要して操作することを実証した。セットアップのキャラクタリゼーションののちに,高磁場での測定を実行した。ゲート-チップにおけるFPI(Fabry-Perot干渉計)ゲートパターンを用いて,IQH(整数量子ホール)端部状態の干渉をプローブした。量子干渉は,電子-電子相互作用,すなわち,Colomb支配領域により支配されていた。
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分類 (2件):
分類
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半導体結晶の電気伝導  ,  半導体結晶の電子構造 
タイトルに関連する用語 (4件):
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