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J-GLOBAL ID：201502210313020716   整理番号：15A0154253

先進的CMOS技術動向と挑戦のソフトエラー信頼性【Powered by NICT】

Soft error reliability in advanced CMOS technologies-trends and challenges

著者 (6件)： Tang Du (School of Nuclear Sci. and Technol., Xi’an Jiaotong Univ., Xi’an) ,  He Chaohui (School of Nuclear Sci. and Technol., Xi’an Jiaotong Univ., Xi’an) ,  Li Yonghong (School of Nuclear Sci. and Technol., Xi’an Jiaotong Univ., Xi’an) ,  Zang Hang (School of Nuclear Sci. and Technol., Xi’an Jiaotong Univ., Xi’an) ,  Xiong Cen (School of Nuclear Sci. and Technol., Xi’an Jiaotong Univ., Xi’an) ,  Zhang Jinxin (School of Nuclear Sci. and Technol., Xi’an Jiaotong Univ., Xi’an)
資料名： Science China. Technological Sciences  (Science China. Technological Sciences)
巻： 57  号： 9  ページ： 1846-1857  発行年： 2014年 
JST資料番号： C2578A  ISSN： 1674-7321  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： デバイスサイズの減少に伴い,様々な粒子によって誘起されたソフトエラーは進歩したCMOS技術にとって深刻な問題となっている。本論文では,ソフトエラーSEUおよびSETの二つの主要な側面,誘起されたSEUへの新しい機構,MCUの進歩とSETのいくつかの新しく観測された現象を含むの発展をレビューした。機構とこれらの問題のダウンスケーリングによる傾向を簡単に論じた。も異なる観点からの異なるタイプのソフトエラーの硬化戦略をレビューし,今後解決しなければならない試験,モデリングおよび硬化保証ソフトエラー問題の課題を提供する。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *ソフトエラー ,  *信頼性 ,  SEU【シングルイベント】 ,  架橋【高分子】 ,  モデリング
準シソーラス用語： *CMOS技術 ,  ダウンスケーリング , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 噴流  (BC02080F)

タイトルに関連する用語 (3件)： CMOS技術 ,  動向 ,  ソフトエラー