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J-GLOBAL ID：201502210327438178   整理番号：15A0679348

ベンゾ[α]ピレンの電気化学発光検出のためのβ-シクロデキストリン官能化CdTe量子ドット

β-cyclodextrin functionalized CdTe quantum dots for electrochemiluminescent detection of benzo[a]pyrene

著者 (3件)： YANG Miao (Anhui Key Lab. of Chemo-biosensing, Coll. of Chemistry Materials Sci., Anhui Normal Univ., Wuhu, 241000, CHN) ,  WANG Yan (Anhui Key Lab. of Chemo-biosensing, Coll. of Chemistry Materials Sci., Anhui Normal Univ., Wuhu, 241000, CHN) ,  WANG Haiyan (Anhui Key Lab. of Chemo-biosensing, Coll. of Chemistry Materials Sci., Anhui Normal Univ., Wuhu, 241000, CHN)
資料名： Electrochimica Acta  (Electrochimica Acta)
巻： 169  ページ： 7-12  発行年： 2015年07月01日 
JST資料番号： B0535B  ISSN： 0013-4686  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： β-シクロデキストリン(β-CD)官能化CdTe量子ドット(QD)は,安定剤としてβ-CD及びメルカプトプロピオン酸(MPA)(β-CD-MPA-CdTeとして示した)を用いて調製した。デュアル安定剤,即ちβ-CDとMPAでキャップしたQDは,QDの非放射表面状態と深い表面トラップの効果的な除去により改善された電気化学発光(ECL)効率と高いECL強度を示すばかりでなく,また,β-CDとのBaPとの間の特定のホスト-ゲスト相互作用の結果として,ベンゾ[a]のピレン(BAP)に向かって選択的な反応を示した。その結果,QDのECLを減少させた。β-CD-MPA-CdTeQDのECLに及ぼすBaPの消光影響に基づいて,BaPの測定のための高感度かつ選択的な方法を開発した。最適な条件の下で,29pMの検出限界(S/N=3)を有する87pMから10nMの範囲線形をBaPの検出のために得た。Copyright 2015 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *量子ドット ,  *テルル化カドミウム ,  化学ルミネセンス ,  官能化 ,  土質安定材料 ,  電子 ,  捕獲 ,  分子間相互作用 ,  ゲストホスト効果 ,  消光 ,  検出限界 ,  検量線 ,  シクロデキストリン ,  芳香族縮合炭化水素
準シソーラス用語： *CdTe量子ドット ,  電気化学発光 ,  安定材 ,  トラップ【固体】 ,  ホスト-ゲスト相互作用

分類 (4件)： 有機化合物の電気分析  (CC05034O) ,  四環以上の炭素縮合多環化合物  (CF06090C) ,  電気化学反応  (CB07050F) ,  分子化合物の結晶構造  (BK09050T)

物質索引 (3件)： β-シクロデキストリン ,  ベンゾ[a]ピレン ,  2-メルカプトプロピオン酸

タイトルに関連する用語 (5件)： ピレン ,  電気化学発光 ,  β-シクロデキストリン ,  官能化 ,  CdTe量子ドット