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J-GLOBAL ID:201502210872786532   整理番号:15A1140695

電界の下での0.85Ba(Ti0.96Zr0.04)O3-0.15Bi(Mg0.5Ti0.5)O3リラクサー強誘電体の誘電応答:PNRの進展

Dielectric response of 0.85 Ba(Ti0.96Zr0.04)O3-0.15 Bi(Mg0.5Ti0.5)O3 relaxor ferroelectrics under electric field: evolution of PNRs
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巻: 26  号: 11  ページ: 9146-9151  発行年: 2015年11月 
JST資料番号: W0003A  ISSN: 0957-4522  CODEN: JMTSAS  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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0.85Ba(Ti0.96Zr0.04)O3-0.15Bi(Mg0.5Ti0.5)O3リラクサー強誘電体セラミック試料を伝統的な固相反応法で合成した。XRD測定の45°で(200)の非対称単一ピークが現れ,誘電率-温度スペクトルとスリムだが認識できるヒステリシスループにおける拡散相遷移と結んで試料の常磁性マトリクスにおける極性ナノ領域(PNR)の存在を証明している。PNRの進展を解析するのに,電界(電界強度と電界履歴を変えて)の下におけるセラミック試料の誘電応答の調査を行った。誘電率の電界依存性は小信号バイアス電界測定とP-Eカーブからの微分計算の両方から得られ,それは限界電界で最初に最大値に達してそれから直接減少するのではなく電界の増加で連続的に減少した。しかしながら,誘電率とバイアス電界測定の限界電界はP-Eカーブからの微分計算のものにたいして電気的に履歴性である。ガラスモデルとマクロマイクロ理論モデルの両方を,別の観点からPNRの進展を調べ説明するために採用した。Copyright 2015 Springer Science+Business Media New York Translated from English into Japanese by JST.
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固体デバイス材料 
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