文献

J-GLOBAL ID：201502210920343354   整理番号：15A0872456

自己組織化したZnOナノロッドの単一層ネットワーク構造によるUV光と歪の同時検知

Simultaneous sensing of UV light and strain with a single-layer network structure of self-assembled ZnO nanorods

著者 (4件)： PARK Ji-Hyeon (Dep. of Materials Sci. & Engineering, Yonsei Univ., Seoul 120-749, Republic of Korea. [e-mail]) ,  LEE Sang Hoon ,  LEE Tae Il ,  MYOUNG Jae-Min
資料名： Chemical Communications  (Chemical Communications)
巻： 51  号： 65  ページ： 12912-12915  発行年： 2015年08月21日 
JST資料番号： D0376B  ISSN： 1359-7345  CODEN： CHCOFS  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ナノロッド(NRs)の単層ネットワーク構造(SLNS)の自己組織化に対する道筋を導入し,NRの材料としての色々な性質を調べた。ZnOのNR SLNSの性質を考え,UV照射された曲げられた位置におけるUV強度と歪を測定するためのUV光と歪の同時検知を目的とするアルゴリズムとデバイスを提案した。Copyright 2015 Royal Society of Chemistry All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST

シソーラス用語： *自己組織化 ,  *ナノロッド ,  *単一層 ,  紫外線 ,  紫外線照射 ,  特性 ,  歪 ,  *歪測定 ,  放射強度 ,  アルゴリズム ,  光センサ ,  センサ ,  固体素子 ,  *ネットワーク構造
準シソーラス用語： *ZnOナノロッド ,  ナノデバイス ,  材料物性 ,  歪センサ

分類 (3件)： 固体デバイス材料  (NC03020K) ,  塩基,金属酸化物  (CD01030Z) ,  計測機器一般  (AD02000X)

タイトルに関連する用語 (6件)： 自己組織化 ,  ZnOナノロッド ,  単一層 ,  ネットワーク構造 ,  UV光 ,  歪