走査型トンネル顕微法/分光法により調べたH/Fe<sub>3</sub>O<sub>4</sub>(001)膜表面のOH密度とFe電子状態間の相関

HIURA Satoshi; IKEUCHI Akira; SHIRINI Soraya; SUBAGYO Agus; SUEOKA Kazuhisa

文献

J-GLOBAL ID：201502211620522695 整理番号：15A1061935

走査型トンネル顕微法/分光法により調べたH/Fe₃O₄(001)膜表面のOH密度とFe電子状態間の相関

Correlation between OH density and Fe electronic states of H/Fe₃O₄(001) film surfaces studied by scanning tunneling microscopy/spectroscopy

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資料名：
巻： 54 号： 8S2 ページ： 08LB02.1-08LB02.4 発行年： 2015年08月
JST資料番号： G0520B ISSN： 0021-4922 CODEN： JJAPB6 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：イギリス (GBR) 言語：英語 (EN)

走査型トンネル顕微法/分光法(STM/STS)により調べたH/Fe₃O₄(001)膜表面における2つの型の吸着構造と,OH密度とFe電子状態間の相関について報告する。原子列に沿った長さが異なる2つの型の明突起(BP)がSTM像において観測された。短い,および,長いBPは,それぞれ,1つおよび2つのOH基を付近に持つFe原子からなる。さらに,STS測定から,付近のOH基が増すにしたがって,Fe原子のFermi準位直下の局在電子密度(LDOS)が高くなることがわかった。この変化は,付近のOH基の数の違いによるH原子からの電子利得の差に起因する。これらの結果から,表面のOH密度が,表面のFe原子のFermi準位直下の局LDOSを決定する因子であることがわかった。(翻訳著者抄録)

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不純物・欠陥の電子構造

引用文献 (36件)：

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走査型トンネル顕微法/分光法により調べたH/Fe3O4(001)膜表面のOH密度とFe電子状態間の相関

走査型トンネル顕微法/分光法により調べたH/Fe₃O₄(001)膜表面のOH密度とFe電子状態間の相関