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J-GLOBAL ID：201502211743198620   整理番号：15A1085453

10~30keV X線用のCompton偏光計

Compton polarimeter for 10-30 keV x rays

著者 (4件)： WEBER S. (Physics Inst., Heidelberg Univ., 69120 Heidelberg, DEU) ,  BEILMANN C. (Physics Inst., Heidelberg Univ., 69120 Heidelberg, DEU) ,  SHAH C. (Physics Inst., Heidelberg Univ., 69120 Heidelberg, DEU) ,  TASHENOV S. (Physics Inst., Heidelberg Univ., 69120 Heidelberg, DEU)
資料名： Review of Scientific Instruments  (Review of Scientific Instruments)
巻： 86  号： 9  ページ： 093110-093110-8  発行年： 2015年09月 
JST資料番号： D0517A  ISSN： 0034-6748  CODEN： RSINAK  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 10~30keV領域のX線用の単純で汎用性のある偏光計を示した。この偏光計はベリリウムや炭化硼素などの低Z物質中のCompton散乱を利用する。室温で動作する12のSi PINダイオードを用いて,散乱X線の方位角分布をサンプルする。モンテカルロシミュレーションを用いて偏光計の性能を評価し,実験結果を示した。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *偏光計 ,  Compton散乱 ,  *PINダイオード ,  *X線散乱 ,  シミュレーション ,  X線検出 ,  偏光 ,  ベリリウム ,  炭化ホウ素 ,  角分布
準シソーラス用語： *X線偏光計 ,  モンテカルロシミュレーション ,  方位角分布

分類 (1件)： 偏光測定と偏光計  (BD07050K)

タイトルに関連する用語 (2件)： X線 ,  偏光計