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J-GLOBAL ID：201502211829319420   整理番号：15A1185317

FIB-SEMによる分析事例の紹介

著者 (1件)： 遠堂敬史 (北大)
資料名： 北海道大学総合技術研究会報告集 平成26年度(CD-ROM)
ページ： ROMBUNNO.08-05  発行年： 2014年 
JST資料番号： N20151371  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *集束イオンビーム ,  *走査電子顕微鏡 ,  *電子顕微鏡観察 ,  *トモグラフィー ,  *画像再構成 ,  三次元 ,  断層画像 ,  *フェライト鋼 ,  焼結鋼 ,  *高合金鋼 ,  クロム含有合金 ,  タングステン含有合金 ,  酸化イットリウム ,  分散強化合金 ,  可視化 ,  *結晶粒径 ,  *電子回折 ,  圧延 ,  解析 ,  結晶粒度 ,  結晶形態 ,  三次元可視化 ,  大圧下圧延 ,  物
準シソーラス用語： 3D可視化 ,  *3D画像再構成 ,  EBSD ,  *FIB-SEMトモグラフィー ,  *トモグラフィー画像再構成 ,  高圧下圧延 ,  三次元解析

分類 (2件)： 金属の結晶構造  (BK06000V) ,  金属組織観察法  (WB01010R)

タイトルに関連する用語 (2件)： FIB-SEM ,  分析