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J-GLOBAL ID:201502211872287117   整理番号:15A1033190

真空遮断器における高周波電流遮断後の絶縁回復特性

Dielectric Recovery Characteristics after High Frequency Current Interruption in Vacuum Circuit Breaker
著者 (4件):
資料名:
巻: 135  号:ページ: 569-576 (J-STAGE)  発行年: 2015年 
JST資料番号: S0809A  ISSN: 0385-4213  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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発弧と消弧を繰返す多重再発弧現象と呼ばれる真空遮断器に発生する現象によって引起こされるサージ電圧は,電気機器の絶縁に対して悪影響を与える。また,このサージ電圧は,高周波電流遮断と絶縁特性が関係している。本論では,高周波電流遮断後の絶縁回復特性を調べた。その結果,絶縁破壊電圧は,高周波電流の増加に対しては減少するが,直流電流の増加に対しては,増加することが分かった。その他,高周波電流注入前の直流電流領域において,カソードスポットは,直流値に比例して増加することも明らかになった。
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分類 (1件):
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開閉装置 
引用文献 (11件):
  • (1) 高橋哲仙・松井芳彦:「真空遮断器の多重再発弧サージに及ぼす各種特性の影響」, 電気学会開閉保護合同研資, SP-11-21, pp. 11-15 (2011)
  • (2) T. Fujii, et al.: “Three-Phase Simultaneous Interruption in Interrupting Inductive Current Chopping Using Vacuum Switches”, IEEE Trans. PAS, Vol. PAS-93, pp. 272-280 (1974)
  • (3) 常田 翔,他:「遮断器開閉現象の検討」, 電気学会開閉保護合同研資, SP-11-19, pp. 1-6 (2011)
  • (4) Y. H. Fu and R. P. P. Smeets: “An Experimental Investigation on High-Frequency Vacuum Arc Interruption at Small Gap Length”, IEEE Trans. Plasma Sci., Vol. 19, No. 5, pp. 772-777 (1991)
  • (5) R. P. P. Smeets: “Townsend-Type Breakdown as a Criterion For High-Frequency Vacuum Arc Interruption at Submillimeter Gaps”, IEEE Trans. Plasma Sci., Vol. 19, No. 5, pp. 767-771 (1991)
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