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J-GLOBAL ID：201502211898683509   整理番号：15A0990743

動作モードスイッチングに基づく低ミスマッチ誤差と高ダイナミックレンジCMOSスマート温度センサ【Powered by NICT】

A Low Mismatch Error and High Dynamic Range CMOS Smart Temperature Sensor Based on Operational Modes Switching

著者 (3件)： Shan Wentao (Inst. of VLSI Design, Zhejiang Univ., Hangzhou) ,  Zhang Peiyong (Inst. of VLSI Design, Zhejiang Univ., Hangzhou) ,  Feng Chenhui (Inst. of VLSI Design, Zhejiang Univ., Hangzhou)
資料名： Chuangan Jishu Xuebao  (Chuangan Jishu Xuebao)
巻： 28  号： 1  ページ： 142-147  発行年： 2015年 
JST資料番号： C2450A  ISSN： 1004-1699  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： 二運転モードを切り替えることができる新しい回路構造はCMOSスマート温度センサの不整合誤差を低減し,高ダイナミックレンジ出力を保証するために提案した。新しい構造を理論解析により,従来の回路とは対照的に,不整合誤差の66%以上を減少させることができる。0.18μmプロセスに基づく°Cと125°Cの間,55シミュレーションは約90%であったPertijs’構造の出力より大きいのダイナミックレンジは,この新しい構造を用いて得られることを示した。この結論はチップ試験結果°Cと100°Cの間,10により検証した。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 半導体チップ ,  *温度センサ ,  *運転モード ,  シミュレーション ,  *スイッチング ,  *ダイナミックレンジ ,  *不整合 ,  *CMOS
準シソーラス用語： 理論解析 ,  回路構成 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 固体デバイス製造技術一般  (NC03030V)

タイトルに関連する用語 (7件)： 動作モード ,  スイッチング ,  ミスマッチ ,  誤差 ,  高ダイナミックレンジ ,  CMOS ,  温度センサ