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J-GLOBAL ID：201502214027650759   整理番号：15A1015759

低エネルギーX線を用いた斜入射小角X線散乱法によるブロック共重合体薄膜の深さ分解構造解析

著者 (2件)： 斎藤樹 (名古屋工大 大学院工学研究科) ,  山本勝宏 (名古屋工大 大学院工学研究科)
資料名： Photon Factory News  (Photon Factory News)
巻： 33  号： 2  ページ： 11-15  発行年： 2015年08月 
JST資料番号： L0090A  ISSN： 0916-0604  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

タイトルに関連する用語 (7件)： 低エネルギー ,  X線 ,  斜入射小角X線散乱 ,  ブロック共重合体 ,  薄膜 ,  分解 ,  構造解析