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J-GLOBAL ID:201502214613575863   整理番号:15A1073789

X線光電子放出分光法により測定したCu2SnS3/In2S3界面でのバンド整列

Band alignment at the Cu2SnS3/In2S3 interface measured by X-ray photoemission spectroscopy
著者 (10件):
資料名:
巻: 353  ページ: 414-418  発行年: 2015年10月30日 
JST資料番号: B0707B  ISSN: 0169-4332  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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この論文では,X線光電子分光法によるCu2SnS3(CTS)/In2S3ヘテロ接合界面でのバンド整列の研究に焦点を当てた。In2S3被覆層をCTS薄膜上に成長させた。これはH2S:N2雰囲気中の真空熱蒸発Sn-Cu金属前駆体の硫化により成長させた。CTS/In2S3界面での価電子帯オフセット(VBO)は1.27±0.10eVと測定された。測定VBOから伝導帯オフセット(CBO)を計算し,(0.58±0.10)eVの値を得た。これらの値は,CBOがスパイク様挙動を持つこと,及び界面が「タイプ1」であることを示す。Copyright 2015 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.
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分類 (3件):
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13-15族化合物を含まない半導体-半導体接合  ,  半導体結晶の電子構造  ,  電子分光スペクトル 
タイトルに関連する用語 (5件):
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