文献

J-GLOBAL ID：201502215322253474   整理番号：15A1367957

最新の表面・界面分析 めっき膜の不良解析への分析装置の適用

著者 (1件)： 森河務 (大阪府産業技総研)
資料名： 表面技術  (Journal of the Surface Finishing Society of Japan)
巻： 66  号： 12  ページ： 552-561  発行年： 2015年12月01日 
JST資料番号： G0441B  ISSN： 0915-1869  CODEN： HYGIEX  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： ここでは,めっき欠陥への表面分析適用にあたって,基礎知識として表面分析の概要と分析機器から得られる情報,めっき不良要因の解析手順について紹介した。まず,表面分析機器の概要を解説した。表面分析で用いられる主要機器毎に,使用目的(表面,構造),原理と検出方法,適用できる試料の性質(表面の電導性,サイズ),検出できる元素の種類などがある。次に,めっき不良解析への表面分析機器の適用について,素地因子・前処理によるめっき不良,めっき処理工程における不良,後処理・環境が絡むめっき不良,の三つに分けて紹介した。最後に,めっき不良への分析機器を利用した解析手順の例を以下に紹介した。1)現場調査・部品入手,2)予備調査(表面観察,記録確認),3)不良状況確認(性能劣化の確認,不良個所の特定),4)過去の類似例との照合(要因推定),5)分析作業(観察,分析目的と分析機器選定,分析作業),6)要因特定と報告書作成である。

シソーラス用語： *めっき皮膜 ,  *故障解析 ,  表面構造 ,  表面処理 ,  表面性状 ,  *表面分析 ,  *構造解析 ,  分析機器 ,  濃度分布 ,  深さプロフィル ,  深さ分析 ,  エッチング ,  トラブルシューティング ,  元素マッピング ,  発生要因 ,  表面組成 ,  構造
準シソーラス用語： 不良解析

分類 (2件)： 構造決定法・回折結晶学一般  (BK01010X) ,  めっき一般  (WC08021T)

引用文献 (17件)：

• 1)JIS H 0400:1998 電気めっき及び関連処理用語.
• 2)尾崎敏範 ; 失敗例に学ぶ 電子部品のめっき技術, p.226(工業調査会, 2006).
• 3)日本プレーティング協会編 ; 現場技術者のための実用めっき(II), p.42(槇書店, 1982).
• 4)星野芳明 ; めっき加工のトラブル対策, p.9(日刊工業, 2006).
• 5)鈴木健生 ; 実務表面処理技術, 25,(11), 537(1978).

タイトルに関連する用語 (4件)： 界面分析 ,  めっき膜 ,  不良解析 ,  分析装置