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J-GLOBAL ID：201502216187808688   整理番号：15A1316566

二次元二値パターンの複雑性の計測-サブシンメトリーおよびPapentin計算量

Measuring the Complexity of Two-Dimensional Binary Patterns-Sub-Symmetries versus Papentin Complexity-

著者 (3件)： TOUSSAINT Godfried T. (New York Univ. Abu Dhabi, Abu Dhabi, ARE) ,  ONEA Noris S. (New York Univ., New York, USA) ,  VUONG Quan H. (New York Univ. Abu Dhabi, Abu Dhabi, ARE)
資料名： Proceedings of the IAPR Conference on Machine Vision Applications  (Proceedings of the IAPR Conference on Machine Vision Applications)
巻： 14th  ページ： 480-483  発行年： 2015年 
JST資料番号： L6253A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *二値画像 ,  *計算量 ,  評価試験 ,  計測システム ,  数え上げ理論 ,  階層構造 ,  測度 ,  計算機アルゴリズム ,  性質
準シソーラス用語： *Papentin計算量 ,  複雑性

分類 (2件)： 数値計算  (JE02000J) ,  計算理論  (JB02000A)

タイトルに関連する用語 (6件)： 二値 ,  複雑性 ,  計測 ,  サブ ,  シンメトリー ,  計算量