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J-GLOBAL ID：201502217190533971   整理番号：15A1096253

パッシブ型THz近接場顕微鏡による誘電体エバネッセント波の検出と評価

著者 (4件)： 横山貴文 (東大) ,  LIN Kuan-Ting (東大) ,  KIM Sunmi (東大) ,  梶原優介 (東大)
資料名： 精密工学会大会学術講演会講演論文集  (精密工学会大会シンポジウム資料集)
巻： 2015  号： 秋季(CD-ROM)  ページ： ROMBUNNO.G07  発行年： 2015年08月20日 
JST資料番号： Y0914A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 我々が開発したパッシブ型THz近接場顕微鏡は,一切の外部光源を使わず,物質表面に局在する熱励起エバネッセント波を空間分解能20nmで検出可能である。本研究では,AlN,GaNなど検出波長近傍に表面フォノン共鳴をもつ誘電体のエバネッセント波の観測を行っている。本報では,異なる検出波長における誘電体エバネッセント波をパッシブ検出し,得られた信号の評価・解析を行ったので報告する。(著者抄録)

シソーラス用語： *走査型プローブ顕微鏡 ,  マイクロ波 ,  *エバネセント波 ,  共焦点顕微鏡 ,  *誘電体 ,  空間分解能 ,  窒化アルミニウム ,  窒化ガリウム ,  表面フォノン ,  共鳴 ,  炭化ケイ素 ,  ヒ化ガリウム ,  光磁気記録 ,  走査光学顕微鏡
準シソーラス用語： *SNOM【顕微鏡】 ,  パッシブ型マイクロ波 ,  マイクロ波検出器 ,  近接場走査型顕微鏡

分類 (1件)： 赤外・遠赤外領域の測光と光検出器  (BD07032W)

タイトルに関連する用語 (6件)： パッシブ ,  近接場 ,  顕微鏡 ,  誘電体 ,  エバネッセント波 ,  評価