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J-GLOBAL ID:201502217461832197   整理番号:15A0242198

構造規制機能界面のいま 単結晶電極と自己組織化膜の進展 4 構造規制金属表面における吸着分子のプラズモン増強ラマン散乱計測

著者 (1件):
資料名:
巻: 83  号:ページ: 112-115  発行年: 2015年02月05日 
JST資料番号: G0072A  ISSN: 1344-3542  CODEN: EECTFA  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 解説  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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表面増強ラマン散乱分光法(SERS)の構造規制された金属-分子界面への適用について,最近の状況を概観した。SERS測定における金属表面のマルチスケール構造規制(表面増強効果を律するナノスケールの構造制御,金属-分子間の相互作用を律する原子スケールでの表面構造制御,金属の電極触媒活性と表面増強効果,金属ナノ粒子を利用する構造規制表面でのSERS測定(理論的背景と実験的経緯,構造規制電極-吸着分子界面の観察例)について述べた。構造規制されたモデル表面で得られたSERSスペクトルは再現性も高く,解析も容易である。表面・界面研究におけるSERS測定法の役割が広がり,電極表面で起こる現象に対する分子レベルの理解が進むことが期待される。
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分類 (4件):
分類
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電気化学反応  ,  固-液界面  ,  有機化合物の赤外スペクトル及びRaman散乱,Ramanスペクトル  ,  固体プラズマ 
引用文献 (18件):
  • 1) Z. Q. Tian, B. Ren, and D. Y. Wu, J. Phys. Chem. B, 106, 9463 (2002).
  • 2) J. J. Baumberg, T. A. Kelf, Y. Sugawara, S. Cintra, M. E. Abdelsalam, P. N. Bartlett, and A. E. Russell, Nano Lett., 5, 2262 (2005).
  • 3) E. M. Hicks, O. Lyandres, W. P. Hall, S. Zou, M. R. Glucksberg, and R. P. Van Duyne, J. Phys. Chem. C, 111, 4116 (2007).
  • 4) M. Futamata, J. Phys. Chem., 99, 11901 (1995).
  • 5) B. Pettinger, B. Ren, G. Picardi, R. Schuster, and G. Ertl, Phys. Rev. Lett., 92, 096101 (2004).
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