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J-GLOBAL ID：201502220204682518   整理番号：15A1034619

PRIGo:高分子結晶学のための新しい多軸ゴニオメータ

PRIGo: a new multi-axis goniometer for macromolecular crystallography

著者 (13件)： WALTERSPERGER Sandro (Swiss Light Source, Paul Scherrer Inst., Villigen PSI, SwitzerlandCentre Suisse d’Electronique et Microtechnique SA ...) ,  OLIERIC Vincent (Swiss Light Source, Paul Scherrer Inst., Villigen PSI, SwitzerlandCentre Suisse d’Electronique et Microtechnique SA ...) ,  PRADERVAND Claude (Swiss Light Source, Paul Scherrer Inst., Villigen PSI, SwitzerlandCentre Suisse d’Electronique et Microtechnique SA ...) ,  GLETTIG Wayne (Swiss Light Source, Paul Scherrer Inst., Villigen PSI, SwitzerlandCentre Suisse d’Electronique et Microtechnique SA ...) ,  SALATHE Marco (Swiss Light Source, Paul Scherrer Inst., Villigen PSI, SwitzerlandCentre Suisse d’Electronique et Microtechnique SA ...) ,  FUCHS Martin R. (Swiss Light Source, Paul Scherrer Inst., Villigen PSI, SwitzerlandCentre Suisse d’Electronique et Microtechnique SA ...) ,  CURTIN Adrian (Swiss Light Source, Paul Scherrer Inst., Villigen PSI, SwitzerlandCentre Suisse d’Electronique et Microtechnique SA ...) ,  WANG Xiaoqiang (Swiss Light Source, Paul Scherrer Inst., Villigen PSI, SwitzerlandCentre Suisse d’Electronique et Microtechnique SA ...) ,  EBNER Simon (Swiss Light Source, Paul Scherrer Inst., Villigen PSI, SwitzerlandCentre Suisse d’Electronique et Microtechnique SA ...) ,  PANEPUCCI Ezequiel (Swiss Light Source, Paul Scherrer Inst., Villigen PSI, SwitzerlandCentre Suisse d’Electronique et Microtechnique SA ...) ,  WEINERT Tobias (Swiss Light Source, Paul Scherrer Inst., Villigen PSI, SwitzerlandCentre Suisse d’Electronique et Microtechnique SA ...) ,  SCHULZE-BRIESE Clemens (Swiss Light Source, Paul Scherrer Inst., Villigen PSI, SwitzerlandCentre Suisse d’Electronique et Microtechnique SA ...) ,  WANG Meitian (Swiss Light Source, Paul Scherrer Inst., Villigen PSI, SwitzerlandCentre Suisse d’Electronique et Microtechnique SA ...)
資料名： Journal of Synchrotron Radiation  (Journal of Synchrotron Radiation)
巻： 22  号： 4  ページ： 895-900  発行年： 2015年07月01日 
JST資料番号： W0763A  ISSN： 0909-0495  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (3件)： 高分子結晶学 ,  多軸 ,  ゴニオメータ