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J-GLOBAL ID：201502220220839418   整理番号：15A0467875

スキャンベース攻撃を考慮した暗号LSIのテスト手法

Test Method for Encryption LSI against Scan-based Attacks

著者 (3件)： 吉村正義 (京都産大 コンピュータ理工) ,  西間木淳 (日本大 大学院生産工学研究科) ,  細川利典 (日本大 生産工)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 114  号： 446(DC2014 78-87)  ページ： 25-30  発行年： 2015年02月06日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 製造テストを容易化するためにLSIにスキャン設計が広く適用されている。このスキャン設計を悪用して,暗号LSI上で扱われる秘密情報を特定するスキャンベース攻撃の危険性が指摘されている。そこで本論文では暗号LSIのコントローラの状態レジスタのみに可観測性を付加するテスト容易化設計手法と可観測な状態機械に対するテストパタン生成手法および機能的時間展開モデルを用いたテスト生成手法を組み合わせた暗号LSI向けのテスト手法を提案する。本テスト手法は,暗号LSIの回路構造や防御手法が漏洩しても,秘密情報が保護されるセキュリティをもつ。また実験において,本手法をDESアルゴリズムを実装した回路に適用し,十分高いテスタビリティを有することを示す。(著者抄録)

シソーラス用語： 回路設計 ,  *バウンダリスキャン ,  *有限状態機械 ,  *暗号 ,  *LSI【IC】 ,  テストパターン ,  コンピュータセキュリティ ,  レジスタ ,  データ保護 ,  評価試験 ,  サイバー攻撃
準シソーラス用語： スキャン設計 ,  セキュリティ攻撃

分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  集積回路一般  (NC03161C)

引用文献 (14件)：

• Y. B. Zhou, D. G. Feng, "Side-Channel Attacks: Ten Years After Its Publication and the Impacts on Cryptographic Module Security Testing", Cryptology ePrint Archive, Report 2005/388.
• 藤原秀雄,ディジタルシステムの設計とテスト,工学図書株式会社,東京,2004.
• B. Yang, K. Wu, R. Karri, "Scan Based Side Channel Attack on Dedicated Hardware Implementations of Data Encryption Standard", Test Conference, 2004. Proceedings. ITC 2004. International, pp.339-344, 2004.
• B. Yang, K. Wu, R. Karri, "Secure Scan: A Design-for-Test Architecture for Crypto Chips", Annual ACM IEEE Design Automation Conference, pp.135-140, 2005.
• M. Yoshimura, Y. Ito, H. Yasuura, "An estimation of encryption LSI testability against scan-based attack," Proceedings of The 10th International Symposium on Communication and Information Technologies (ISCIT2010), pp.727-731, Oct. 2010.

タイトルに関連する用語 (5件)： スキャン ,  攻撃 ,  暗号 ,  LSIのテスト ,  手法