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J-GLOBAL ID：201502220660270647   整理番号：15A0858722

収束電子ビームを用いた金属ワイヤの2次元CTプロファイル計測原理実証

著者 (6件)： 五十嵐大裕 (早稲田大 理工学術院 総合研・理工研) ,  佐藤令 (早稲田大 理工学術院 総合研・理工研) ,  野々村洸 (早稲田大 理工学術院 総合研・理工研) ,  坂上和之 (早稲田大 理工学術院 総合研・理工研) ,  遠藤彰 (早稲田大 理工学術院 総合研・理工研) ,  鷲尾方一 (早稲田大 理工学術院 総合研・理工研)
資料名： 日本物理学会講演概要集(CD-ROM)  (日本物理学会春季大会講演概要集(CD-ROM))
巻： 70  号： 1  ページ： ROMBUNNO.24PDE-7  発行年： 2015年03月24日 
JST資料番号： S0671C  ISSN： 2189-079X  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *高出力レーザ ,  電子ビーム ,  *ビーム集束 ,  Compton散乱 ,  *分布 ,  金属線 ,  二次元 ,  逆Compton散乱 ,  *強度分布 ,  コンピューター断層撮影
準シソーラス用語： 計算機トモグラフィー ,  CT【トモグラフィー】

分類 (1件)： レーザ一般  (BD04030T)

タイトルに関連する用語 (7件)： 収束電子ビーム ,  金属ワイヤ ,  2次元 ,  CT ,  プロファイル ,  計測原理 ,  実証