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J-GLOBAL ID:201502221070735632   整理番号:15A0873116

高圧における非弾性X線測定のための寄生散乱を低減する集束ポリキャピラリー

Focusing polycapillary to reduce parasitic scattering for inelastic x-ray measurements at high pressure
著者 (9件):
資料名:
巻: 86  号:ページ: 072203-072203-6  発行年: 2015年07月 
JST資料番号: D0517A  ISSN: 0034-6748  CODEN: RSINAK  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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電子からのX線光子の非弾性散乱のための二重微分散乱断面積は,弾性散乱のそれより数桁小さい。高圧におけるダイヤモンドアンビルセルにおいて10~100μmサイズの試料に関して,試料からの非弾性X線散乱信号は,セルガスケット及びダイヤモンドからの散乱によりぼかされた。一つの主要な実験課題は,ダイヤモンドアンビルセルにおける試料からのクリーンな非弾性信号を測定することであった。これを行う多数の方法の中で,著者らは,ポスト試料光学系として集束ポリキャピラリーを用いた。これは,入力視野内の本質的に散乱光子のみが,分光計の後方散乱エネルギーアナライザへ再集束され,伝送されることを可能にした。修正非弾性X線分光計及びそのアラインメントを述べた。比較的大きな散乱角において,試料サイズ及びポリキャピラリーの視野に整合した集束入射ビームにより,ポリキャピラリーは,ダイヤモンドアンビルガスケット及びダイヤモンドからの寄生散乱を効果的に低減した。ポリキャピラリー法を用いた,高圧におけるX線非弾性散乱により測定したヘリウム励起子から集められた生データを,従来のポスト試料スリットコリメーション用いたものと比較した。(翻訳著者抄録)
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分類 (3件):
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JSTが定めた文献の分類名称とコードです
X線技術  ,  X線回折法  ,  高圧技術 

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