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J-GLOBAL ID：201502224024392478   整理番号：15A0327374

Kelvinプローブ力顕微鏡法による電極上の有機多層膜の表面電位測定

Surface Potential Measurement of Organic Multi-layered Films on Electrodes by Kelvin Probe Force Microscopy

著者 (6件)： SATOH Nobuo (Kyoto Univ.) ,  SATOH Nobuo (Chiba Institure of Technol.) ,  KATORI Shigetaka (Kyoto Univ.) ,  KOBAYASHI Kei (Kyoto Univ.) ,  MATSUSHIGE Kazumi (Kyoto Univ.) ,  YAMADA Hirofumi (Kyoto Univ.)
資料名： IEICE Transactions on Electronics (Web)  (IEICE Transactions on Electronics (Web))
巻： E98.C  号： 2  ページ： 91-97 (J-STAGE)  発行年： 2015年 
JST資料番号： U0468A  ISSN： 1745-1353  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 2種類の電極上に堆積した有機半導体の膜厚と表面電位の両方を,動的力顕微鏡法(DFM)/Kelvinプローブ力顕微鏡(KFM)を用いた同時観測により研究した。有機半導体の界面特性を明らかにするため,金属シャドウマスクを交差させ,真空蒸着により陽極としてインジウム-スズ-酸化物(ITO)上に,陰極としてアルミニウム上に,ビス[N,N’-(1-ナフチル)-N,N’-フェニル]ベンジジン(α-NPD)およびトリス(8-ハイドロキシキノリナート)アルミニウム(Alq₃)をそれぞれ蒸着させて有機発光ダイオード(OLED)を模倣させた試料を作製した。この蒸着法は,同一基板内に四つの異なる領域を作製できる。この蒸着薄膜の交差領域をDFM/KFMで測定し,そのエネルギーバンド図を作成し,有機半導体の電荷挙動はその材料と構造に依存することを検討した。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *発光ダイオード ,  有機半導体 ,  *多層膜 ,  半導体薄膜 ,  表面電位 ,  電気測定 ,  顕微鏡観察 ,  蒸着膜
準シソーラス用語： Kelvinプローブ力顕微鏡法

分類 (1件)： 発光素子  (NC03082G)

引用文献 (26件)：

• [1] H. Vázquez, F. Flores, R. Oszwaldowski, J. Ortega, R. Pérez, and A. Kahn, “Barrier formation at metal-organic interfaces: dipole formation and the charge neutrality level,” Appl. Surf. Sci., vol.234, no.1–4, pp.107–112, 2004.
• [2] Y. Gao, “Surface analytical studies of interfaces in organic semiconductor devices,” Mater. Sci. Eng. Rep., vol.68, no.3, pp.39–87, 2010.
• [3] I. G. Hill, A. J. Mäkinen, and Z. H. Kafafi, “Initial stages of metal/organic semiconductor interface formation,” J. Appl. Phys., vol.88, no.2, pp.889, 2000.
• [4] C. W. Tang and S. A. VanSlyke, “Organic electroluminescent diodes,” Appl. Phys. Lett., vol.51, no.12, pp.913, 1987.
• [5] J. Kido, M. Kimura, and K. Nagai, “Multilayer white light-emitting organic electroluminescent device,” Science, vol.267, no.5202, pp.1332–1334, 1995.

タイトルに関連する用語 (3件)： Kelvinプローブ力顕微鏡法 ,  多層膜 ,  電位測定