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J-GLOBAL ID：201502227384094477   整理番号：15A0580196

カーボンナノチューブ・グラフェンのSEM観察

SEM Observation of Carbon Nanotube and Graphene

著者 (2件)： 本間芳和 (東京理科大学) ,  加藤大樹 (東京理科大学)
資料名： 表面科学  (JSSSJ)
巻： 36  号： 4  ページ： 178-183 (J-STAGE)  発行年： 2015年 
JST資料番号： F0940B  ISSN： 0388-5321  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 走査型電子顕微鏡(SEM)を適用し,単層カーボンナノチューブ(CNTs)及び単層グラフェンにおける二次電子結像機構を解析した。カーボンナノチューブのSEM観察(空間に保持されたCNT及び絶縁基板上のCNT),グラフェンの二次電子像(金属上,絶縁体上及びその場観察)を示した。絶縁体上のグラフェンの明るい二次電子像には絶縁体上のCNTのものと同一機構が寄与するものと考察した。

シソーラス用語： *走査電子顕微鏡 ,  *電子顕微鏡観察 ,  *単層カーボンナノチューブ ,  二次電子放出 ,  *グラフェン ,  結像 ,  絶縁材料 ,  コントラスト ,  反応機構 ,  その場観察 ,  金属 ,  絶縁体 ,  単層グラフェン

分類 (2件)： その他の物理分析  (CC03014E) ,  無機化合物一般及び元素  (CD01010D)

引用文献 (15件)：

• 1) Y. Homma, S. Chiashi and Y. Kobayashi: Rep. Prog. Phys. 72, 066502 (2009).
• 2) Y. Lin and D.C. Joy: Surf. Interface Anal. 37, 895 (2005).
• 3) D.C. Joy and C.S. Joy: J. Microsc. Soc. Am. 1, 107 (1995).
• 4) Y. Homma, S. Suzuki, Y. Kobayashi, M. Nagase and D. Takagi: Appl. Phys. Lett. 84, 1750 (2004).
• 5) Y. Homma, D. Takagi, S. Suzuki, K. Kanzaki and Y. Kobayashi: J. Electron Microscopy, 54, i3 (2005).

タイトルに関連する用語 (3件)： カーボンナノチューブ ,  グラフェン ,  SEM観察