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J-GLOBAL ID：201502230663594650   整理番号：15A0498976

薄い有機フィルムの健全性の評価 1

Integrity Assessment of Thin Organic Films-Part 1

著者 (1件)： HABIB Khaled (Materials Sci. Lab., Safat, KWT)
資料名： Materials Performance  (Materials Performance)
巻： 54  号： 2  ページ： 28-31  発行年： 2015年02月 
JST資料番号： D0040B  ISSN： 0094-1492  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 炭素鋼上のいくつかの有機皮膜の抵抗値について,シアログラフィーと電気化学インピーダンススペクトロスコピー(EIS)測定により決定した。本報では理論と試験方法について述べる。シアログラフィーは,光学的歪測定法として確立された方法であるが,レーザ光を対象物,ここでは皮膜に照射し,温度変化に伴う皮膜の厚み変化(Δd)を求める。次に,同じ試験片を用いてEISにより皮膜のインピーダンス(Z)を測定し,ZとΔdと皮膜の抵抗値ρ_Cの関係式からρ_Cを算出する。ρ_Cを経時的に測定し,この値が基板の抵抗値ρ_Sに達した時点で損傷したと判断する。試験は,片面を被覆した炭素鋼の試験片を用い,裏面より加熱して皮膜の歪をシアログラフィーで測定した。EISは,同じ試験片を用い,塩化物水溶液中で測定した。結果は第二部で述べる。

シソーラス用語： *炭素鋼 ,  健全性 ,  抵抗 ,  *非破壊検査 ,  *スペクトロスコピー ,  電気化学インピーダンス ,  レーザ照射 ,  膜厚 ,  温度依存性 ,  歪 ,  塩化ナトリウム ,  水溶液 ,  *インピーダンス法【腐食】 ,  *耐食性 ,  エナメル ,  ラッカー ,  *塗膜 ,  光学的測定
準シソーラス用語： *シアログラフィー ,  光学的歪み ,  *電気化学インピーダンススペクトロスコピー ,  *有機被覆

分類 (3件)： 塗料の性質  (YJ03020Q) ,  金属への塗装  (YJ04030I) ,  腐食基礎理論,腐食試験  (WB03020Q)

タイトルに関連する用語 (3件)： フィルム ,  健全性 ,  評価