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J-GLOBAL ID:201502231176534940   整理番号:15A0475810

Si薄板の光音響信号と雑音分析:周波数領域における信号補正

Photoacoustic signal and noise analysis for Si thin plate: Signal correction in frequency domain
著者 (5件):
資料名:
巻: 86  号:ページ: 035110-035110-9  発行年: 2015年03月 
JST資料番号: D0517A  ISSN: 0034-6748  CODEN: RSINAK  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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20-20000Hz変調周波数範囲で85μmの薄いSi試料の光音響信号測定,整流,及び分析する方法を提示した。コヒーレント・インコヒーレント雑音,そしてマイクロホン特性が原因となった変形が存在するとき,周波数依存の振幅と位相の信号整流を行う方法を提示した。信号補正は,良く知られたバルクパラメータと寸法の試料に対する実際の信号と理想的な信号を比較して求めた逆システム応答関数を使って実行した。システム応答は要素ごとの構築であり,各成分は測定システムの特定の効果が原因となって生じる。熱伝達効果と弾性効果は標準的なRosencweig-Gersho理論と弾性曲げ理論を使ってモデル化した。熱拡散,熱弾性,及びプラズマ弾性信号成分を計算し,測定結果と比較した。理論と実験との差を使って,信号の変形を検出し,補正し,また検出器とサウンドカードの特性を決定した。補正した信号は既知の試料パラメータを忠実に反映していることが分った。(翻訳著者抄録)
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