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J-GLOBAL ID：201502232768385391   整理番号：15A0531816

蛍光X線分析の試料調製-基本と実例-

Sample Preparation Approaches for X-Ray Fluorescence Analysis

著者 (2件)： 市川慎太郎 (明治大 研究・知財戦略機構) ,  中村利廣 (明治大 理工)
資料名： X線分析の進歩  (X線工業分析)
巻： 46  ページ： 77-95  発行年： 2015年03月31日 
JST資料番号： Z0547B  ISSN： 0911-7806  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 蛍光X線法は,固体・粉末試料中の主成分および微量成分を定量することができる。分析に際して,試料の化学的前処理による溶液化が必要ないので,簡便な機器分析法として,分析の知識や経験がない分野でも広範に使われている。ここでは,2012-2014年のJapan Analytical and Scientific Instruments Show(JASIS)で開講されたセミナー「これであなたも専門家-蛍光X線編」内の「蛍光X線分析の試料調製と標準物質(講演:明治大学・中村利廣)」に基づき,蛍光X線の原理や特徴を考慮して,試料の前処理や測定試料調製の重要性を概観した。また,各測定試料の特徴やそれらを使用した分析の実例を示した。(著者抄録)

シソーラス用語： *蛍光X線分析 ,  固体 ,  粉体 ,  均一性 ,  *試料調製 ,  標準物質 ,  微量分析
準シソーラス用語： 均質性

分類 (1件)： その他の物理分析  (CC03014E)

引用文献 (87件)：

• T. Rotunno, L. Sabbatini, M. Corrente: Archaeometry, 39, 343 (1997).
• C. J. Doherty, A. L. Maske: Archaeometry, 40, 71 (1998).
• C. Tschegg, T. Ntaflos, I. Hein: J. Archaeol. Sci., 36, 1103 (2009).
• K. Kumar, E. Saion, M. K. Halimah, Yap CK, M. S. Hamzah: I Radioanal. NucL Chem., 301, 667 (2014).
• O. Bolormaa, J. Baasansuren, K. Kawasaki, M. Watanabe, T. Hattroi: Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B, 262, 385 (2007).

タイトルに関連する用語 (2件)： 蛍光X線分析 ,  試料調製