抄録/ポイント:
抄録/ポイント
文献の概要を数百字程度の日本語でまとめたものです。
部分表示の続きは、JDreamⅢ(有料)でご覧頂けます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
半導体IC製造の工程管理の根本的な真理の4番目は,「工程管理に変更を加えるときは,リスクのあるロットを常に定量化しなさい」である。これは,測定データの不確かさを理解することと同じである。工程管理のリスクは2種類しかない。管理範囲からは外れるが実際には問題のないαリスク,および管理範囲内ではあるが実際には問題のあるβリスクである。管理範囲の上限値や下限値を移動することでリスクの低減は可能であるが,αリスクの縮小はβリスクの増大という代償を伴う。測定感度や検査面積の変更等,測定のやり方自体を変えるときは,管理限界値を見直す必要がある。一例として,ウエハの欠陥検査を考察した。コスト削減のために工程管理のやり方を変更することは,短期的な解決策のようにみえるが,持続することはめったにない。工場の管理者はサプライズが嫌い,という単純な理由のためである。