Focus characterization at an X-ray free-electron laser by coherent scattering and speckle analysis

SIKORSKI Marcin; SONG Sanghoon; SCHROPP Andreas; SEIBOTH Frank; FENG Yiping; ALONSO-MORI Roberto; CHOLLET Matthieu; LEMKE Henrik T.; SOKARAS Dimosthenis; WENG Tsu-Chien; ZHANG Wenkai; ROBERT Aymeric; ZHU Diling

文献

J-GLOBAL ID：201502235511508025 整理番号：15A0596675

Focus characterization at an X-ray free-electron laser by coherent scattering and speckle analysis

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資料名：
巻： 22 号： 3 ページ： 599-605 発行年： 2015年05月01日
JST資料番号： W0763A ISSN： 0909-0495 資料種別：逐次刊行物 (A)
発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

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