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J-GLOBAL ID：201502236918063083   整理番号：15A0158670

第9回 ナノテクノロジープラットフォームを活用した研究・技術開発の新展開~ベンチャ~,中小から大企業まで~産総研微細構造解析プラットフォーム「先端計測分析機器の開発と公開」

著者 (3件)： 齋藤直昭 (産業技術総合研 計測フロンティア研究部門) ,  浮辺雅宏 (産業技術総合研 計測フロンティア研究部門) ,  松林信行 (産業技術総合研 計測フロンティア研究部門)
資料名： 工業材料  (Engineering Materials)
巻： 63  号： 2  ページ： 81-83  発行年： 2015年02月01日 
JST資料番号： F0172A  ISSN： 0452-2834  CODEN： KZAIA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 産総研の計測フロンティア研究部門では,先端計測分析技術の開発を行ない,開発した装置及び技術を公開して全国からの計測要望に幅広く対応している。本稿では,陽電子プローブアナライザー装置・超伝導蛍光収量X線吸収微細構造分析装置・可視-赤外過渡吸収分光装置・リアル表面プローブ顕微鏡等7種類の公開装置の概要を紹介した。公開装置の利用に関しては,技術相談から共同研究までの5種類の利用形態があり,利用者ニーズにきめ細かく応じている。

シソーラス用語： *ナノテクノロジー ,  研究所 ,  *微細構造 ,  *構造解析 ,  研究施設 ,  走査型プローブ顕微鏡 ,  スペクトロスコピー ,  過渡吸収スペクトル
準シソーラス用語： ナノテクノロジープラットフォーム ,  過渡吸収分光法 ,  産業技術総合研究所 ,  微細構造解析プラットフォーム ,  陽電子プローブマイクロアナライザ

分類 (1件)： 研究開発  (AA03000V)

タイトルに関連する用語 (13件)： ナノテクノロジープラットフォーム ,  活用 ,  研究 ,  開発 ,  展開 ,  大企業 ,  産総研 ,  微細構造 ,  解析 ,  プラットフォーム ,  計測 ,  分析機器 ,  公開