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J-GLOBAL ID:201502238688883518   整理番号:15A0482390

交差指電極を伴う強誘電体における誘電損失への応力と電場勾配の寄与

Stress and electric field gradient contributions to dielectric loss in ferroelectrics with interdigitated electrodes
著者 (4件):
資料名:
巻: 26  号:ページ: 573-581  発行年: 2015年03月 
JST資料番号: W0165A  ISSN: 1045-389X  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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MEMSにおいて使用される圧電材料上に置かれた交差指電極(IDE)は,異方性電場を生じる。IDEを設置した圧電マクロファイバー複合体(MFC)の実験装置を製作し,MFCと電極間の誘電損失及び減衰挙動を調べた。誘電損失を測定した。その結果,MFCの誘電正接(tanδ)は,電極板の3倍である事がわかり,誘電損失が大きいことが示された。まあた,有限要素モデルを構築し有限要素解析を行った。MFC及び電極板のtanδ及び減衰係数を求めた。分極化状態も示した。電極板端部で分極勾配及び残留応力が見られ,これらの影響を考察した。
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分類 (3件):
分類
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ゴム・プラスチック材料  ,  強誘電体,反強誘電体,強弾性  ,  その他の電気・電子部品 
タイトルに関連する用語 (5件):
タイトルに関連する用語
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