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J-GLOBAL ID：201502241745843553   整理番号：15A0624954

抗菌銅上バクテリア細胞の組織的損傷画像化-FIB断面化法を用いた走査型電子顕微鏡調査

Imaging Structural Damage of Bacteria on Antibacterial Copper-a Scanning Electron Microscopy Study Using FIB Cross-Sectioning

著者 (3件)： HANS M. (Saarland Univ., Saarbruecken, DEU) ,  ROJAN A.-L. (Saarland Univ., Saarbruecken, DEU) ,  MUECKLICH F. (Saarland Univ., Saarbruecken, DEU)
資料名： Practical Metallography  (Practical Metallography)
巻： 52  号： 4  ページ： 205-213  発行年： 2015年 
JST資料番号： B0731A  ISSN： 0032-678X  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： ドイツ (DEU)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 走査型電子顕微鏡/集束イオンビーム断面化法を組み合わせて,材料の微細組織構造の高分解能3次元特性解析を行う方法を開発した。本研究はこの開発した方法を用いて,材料表面とバクテリア細胞との相互作用を解明するために特に抗菌銅材料で誘起されるバクテリア損傷メカニズムの画像化を中心に検討した。蛍光性DSM50090バクテリアを研磨銅板またはシリコン酸化物ウェファー上に置いて,時間経過に伴うバクテリア変化挙動を本法で観察し,シリコン酸化物ウェファー上では変化が無いが,銅板上では60分間で完全にバクテリアが死滅する事を明らかにした。しかし,収束イオンビーム法でバクテリアを観察するためには高真空条件が必要であり,試料準備段階でバクテリアを損傷する恐れがあり,バクテリアに損傷を及ぼさない試料調製法の開発が今後の課題である。

シソーラス用語： *技術 ,  形態 ,  経時変化 ,  細菌 ,  細菌検査 ,  細胞運動 ,  *撮像 ,  試料調製 ,  集束イオンビーム ,  *電子顕微鏡観察 ,  *板 ,  立体画像
準シソーラス用語： バクテリア ,  抗菌性試験 ,  *細胞画像化 ,  細胞学技術 ,  細胞形態 ,  三次元画像 ,  *集束イオンビーム技術 ,  *銅板

分類 (2件)： 金属組織観察法  (WB01010R) ,  細胞生理一般  (EF02010S)

タイトルに関連する用語 (10件)： 抗菌 ,  銅 ,  バクテリア ,  細胞 ,  組織 ,  損傷 ,  画像化 ,  FIB ,  走査型電子顕微鏡 ,  調査