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J-GLOBAL ID:201502242990033326   整理番号:15A0108984

プラセオジムドープ酸化スズ電極の導電性と安定性に関する実験的研究と理論計算

Experimental study and theoretical calculation on the conductivity and stability of praseodymium doped tin oxide electrode
著者 (6件):
資料名:
巻: 151  ページ: 177-185  発行年: 2015年01月01日 
JST資料番号: B0535B  ISSN: 0013-4686  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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Ti/SnO2-Sb2O4-Pr2O3/PbO2のアノードを,電着法により調製した。電極を,X線回折(XRD)及び走査型電子顕微鏡(SEM)によってキャリクタリゼーションした。フェノール実験の分解と電極の加速寿命試験を実施した。さらに,形成エネルギー,バンド構造及び状態の密度(DOS)を,第一原理計算によって計算した。Prドーピングは,SnO2相を変化して,基板への酸素の拡散を防止するため,界面抵抗を下げることを,その結果は示した。ドーピング比が100:8である場合,フェノール率の触媒劣化は58.3%であった。ドーピング比が100:8である場合,電極の寿命は,60°CでH2SO4液の1molL-1中で4Acm-2の高電流密度下で121時間の最大値に達した。また,同じドーピング比で,形成エネルギーとバンドギャップが,それぞれ-15.59eVと0.656eVの最小値に達した。実験は,理論とよく一致していた。それ故,プラセオジムドープ酸化スズ電極は,耐酸アノードに有望なものであると結論した。Copyright 2015 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.
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分類 (4件):
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電気化学反応  ,  金属酸化物及び金属カルコゲン化物の結晶構造  ,  電解装置  ,  半導体結晶の電気伝導 

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