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J-GLOBAL ID:201502243126401492   整理番号:15A0170005

検査・計測・分析・試験機器シリーズ[44]ナノ薄膜・界面の熱物性評価技術

著者 (1件):
資料名:
巻: 43  号:ページ: 86-88  発行年: 2015年01月15日 
JST資料番号: Y0873A  ISSN: 0911-2316  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 解説  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
抄録/ポイント:
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産業総合研究所は,レーザフラッシュ法を高速化した「パルス光加熱サーモリフレクタンス法」という計測技術を開発し,世界に先駆けて薄膜の熱物性測定に成功した。(株)ピコサームは,本技術をもとに薄膜熱物性測定装置「NanoTR」「PicoTR」を製品化し,数10nm~数10μm厚の金属/酸化物/有機薄膜の熱拡散率,熱浸透率,熱伝導率,多層膜の層間の界面熱抵抗の測定が可能となった。本稿は,両装置の概要と,ナノ薄膜・界面の熱物性評価技術を紹介した。1)はじめに,2)パルス光加熱サーモリフレクタンス法,3)薄膜熱物性測定装置「NanoTR」「PicoTR」,4)国際標準へのトレーサビリティーとJIS規格の制定,5)ナノ薄膜の熱物性評価,6)界面の熱物性評価技術。
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分類 (6件):
分類
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比熱・熱伝導一般  ,  固体中の拡散一般  ,  伝熱一般・基礎  ,  レーザの応用  ,  加熱  ,  温度測定,温度計 

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