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J-GLOBAL ID：201502243620191930   整理番号：15A0680052

アゾ高分子の配向アレイを利用した単一露光偏光位相シフト干渉計

Single-exposure polarization phase-shifting interferometer using an azo-polymer orientation array

著者 (6件)： YAN Peizheng (Dep. of Precision Machinery and Precision Instrumentation, Univ. of Sci. and Technol. of China, Hefei 230026, Anhui, CHN) ,  WANG Keyi (Dep. of Precision Machinery and Precision Instrumentation, Univ. of Sci. and Technol. of China, Hefei 230026, Anhui, CHN) ,  CUI Pengcheng (Dep. of Precision Machinery and Precision Instrumentation, Univ. of Sci. and Technol. of China, Hefei 230026, Anhui, CHN) ,  GAO Jiangang (School of Biological and Chemical Engineering, Anhui Polytechnic Univ., Wuhu 241000, Anhui, CHN) ,  MA Jiajun (Dep. of Polymer Sci. and Engineering, Univ. of Sci. and Technol. of China, Hefei 230026, Anhui, CHN) ,  ZHANG Qijin (Dep. of Polymer Sci. and Engineering, Univ. of Sci. and Technol. of China, Hefei 230026, Anhui, CHN)
資料名： Optics and Lasers in Engineering  (Optics and Lasers in Engineering)
巻： 73  ページ： 75-79  発行年： 2015年10月 
JST資料番号： A0602B  ISSN： 0143-8166  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： アゾ高分子の配向アレイを利用したビームスプリッティング法に基づいて,単一露光偏光位相シフト干渉計を提案した。光誘起光学異方性を有する通常のアゾ高分子膜を利用して,アゾ高分子の配向アレイを調製した。アゾ高分子の配向アレイにより,干渉縞で四ステップ位相シフトが得られた。この位相シフトから,直交偏光参照ビームと物体ビームとの位相シフトを計算できた。実験結果を示し,提案された干渉計の可能性を実証した。アゾ高分子の配向アレイは容易に作製でき,便利で低原価であった。Copyright 2015 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *干渉計 ,  位相シフト ,  光干渉法 ,  偏光 ,  露光 ,  *アゾ化合物 ,  *重合体 ,  分子配向 ,  アレイ ,  異方性 ,  複屈折 ,  高分子膜 ,  楕円偏光 ,  ビームスプリッタ ,  干渉縞
準シソーラス用語： *アゾ高分子 ,  *位相シフト干渉計 ,  光学異方性

分類 (2件)： 干渉測定と干渉計  (BD07070G) ,  高分子固体の物理的性質  (CG02024U)

タイトルに関連する用語 (6件)： アゾ高分子 ,  配向 ,  アレイ ,  露光 ,  偏光 ,  位相シフト干渉計