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J-GLOBAL ID:201502244430093563   整理番号:15A0248615

アモルファスシリコンの薄膜:光誘起劣化の振る舞い

Amorphous silicon thin-film: Behaviour of light-induced degradation
著者 (4件):
資料名:
巻: 43  ページ: 388-402  発行年: 2015年03月 
JST資料番号: W1084A  ISSN: 1364-0321  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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本論文は,薄膜PV技術の振る舞いの複雑な特性に関して,系統連系PVシステムの重要性を調査して,強調することを目指している。調査は,準安定的振る舞いの応答に関連する可能性がある問題を徹底的にレビューして,屋外暴露下での安定化期間を求める際の新技術を開発した。文献検索によると,系統連系システムを使用する薄膜PV技術の性能や信頼性などの重要な問題は,光誘起劣化(LID)安定化期間のプロセスと同様に,量率が選択されたPV技術タイプに一般的に依存するが,かなり良好な性能を有している。本研究は,PVシステム適用で信頼度やロバストさを得ることを困難にしている,この挙動に対する可能性のある影響を調査して要約することにより,光誘起劣化メカニズムの特定に繋がるであろう。Copyright 2015 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.
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分類 (1件):
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太陽電池 
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